SJ 50597/58-2003 半导体集成电路 JB726型限幅放大鉴频器详细规范

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基本信息
标准名称:半导体集成电路 JB726型限幅放大鉴频器详细规范
英文名称:Semiconductor integrated circuits Detail specification for type JB726 limit Amplifier discriminator
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:2003-06-04
实施日期:2003-12-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
归口单位:信息产业部电子第四研究所
起草单位:中国电子科技集团公司第二十四所
起草人:何乐、刘小平
出版社:工业电子出版社
出版日期:2003-11-01
页数:15页
适用范围

本规范规定了硅单片集成电路JB 726型限幅放大鉴频器(以下简称器件)的详细要求。

前言

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目录

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引用标准

GB/T 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸
GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序
GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范

所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringAbrasionResistanceofMaterialsbyAbrasiveLoopContact
【原文标准名称】:磨擦环接触法测量材料耐磨性的标准试验方法
【标准号】:ASTMG174-2004
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:抗磨性;环;磨料;测量;触点
【英文主题词】:contact;loops;measuring;abrasives;abrasionresistance
【摘要】:
【中国标准分类号】:J43
【国际标准分类号】:25_100_70
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:TestMethodforDetectionofOxidationInducedDefectsinPolishedSiliconWafers
【原文标准名称】:抛光硅圆片中检测氧化引起缺陷的测试方法
【标准号】:ASTMF416-1994
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;垫圈;缺陷与故障;氧化;硅;电子工程;玻璃的
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:
【正文语种】: